產品詳情
  • 產品名稱:X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀

  • 產品型號:EX-731
  • 產品廠商:日本電測
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簡單介紹:
供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀是一款專門用來測試各種元素厚度的一種**儀器。 供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀
詳情介紹:

    EX-731型熒光X-Ray元素膜厚儀是一款專門用來測試各種元素厚度的一種**儀器。采用多能譜分析器,使用256高頻分析器,光譜自動分析.*高可測量3層膜厚.

供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀X-Y-Z軸可移動式測量台參數


測量台操作方式

手動

自動

測量行程

單位(mm)

170 × 110

300 × 280

移動量

X(mm)

70

80

Y(mm)

70

60

Z(mm)

80(測定物高*大150

50

測定物高(*大)

80150可選)

50

外形(mm)

600(W)×465(D)×730(H)

重量(kg)

79

85

測量台載重(kg)

3

1

電源

AC200V±10V

供應日本電測EX-731型熒光X-Ray元素厚度測量儀膜厚儀技術參數

X線源

油浸式小型微焦點X線管
管電圧50kV
管電流可変

照射方式

上麵垂直照射方式

検出器

比例計數管

準直孔

5種類(自動切換式)
0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0φmm
(
可選換如下準直孔)
:0.05×0.5,0.05φ

樣品觀察

CCD鏡頭

測定対象

原子番號22(Ti)82(Pb)
原子番號21以下可應用吸收法測量

濾波器

 (Co、Ni)自動切換

厚度測定範圍

原子番號2224:0.2~約20μm
原子番號2540:0.1~約30μm
原子番號4151:0.2~約70μm
原子番號5282:0.05~約10μm

検量線

検量線自動作成

測量功能

単層膜厚測定
2
層膜厚測定
3
層膜厚測定
合金膜厚成分比同時測定
無電解膜厚測定

測量模式

自動測量
X-Ray
功率可選擇

自動測量台功能

測定位置指定(X-Y-Z)
同一點重複測量功能
原點補正功能

測定位置確認功能
自動校正

數據処理機能

統計量表示:平均、標準偏差、*大、*小、方差、Cp、Cpk
餅圖表示
柱狀圖表示
測定值立體圖表示
-R管理圖


 
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